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Publicações Publicações nacionais ENDIEL'91b Sumário
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Publicações
nacionais
Sumários ENDIEL'91b: O Boundary Scan Test (BST), adoptado como norma
do IEEE durante o ano de 1990, proporciona uma infra estrutura para o teste
de cartas de circuito impresso que ultrapassa as limitações
dos equipamentos de teste funcionais, e in-circuit. Baseia-se na disponibilidade
de circuitos integrados com células especiais associadas a cada
pino funcional, que realizam o equivalente a uma matriz-de-agulhas (bed-of
nails) electrónica, e que facilitam o teste das interligações
na carta, e o controlo de mecanismos de auto teste disponíveis nos
integrados. Esta comunicação descreve um processador dedicado
cuja arquitectura foi definida no sentido de realizar o auto teste de cartas
de circuito impresso que disponham de BST. Uma primeira versão deste
processador foi desenvolvida e fabricada em tecnologia CMOS (1,5 ?m).
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