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ENDIEL'91b:

O Boundary Scan Test (BST), adoptado como norma do IEEE durante o ano de 1990, proporciona uma infra estrutura para o teste de cartas de circuito impresso que ultrapassa as limitações dos equipamentos de teste funcionais, e in-circuit. Baseia-se na disponibilidade de circuitos integrados com células especiais associadas a cada pino funcional, que realizam o equivalente a uma matriz-de-agulhas (bed-of nails) electrónica, e que facilitam o teste das interligações na carta, e o controlo de mecanismos de auto teste disponíveis nos integrados. Esta comunicação descreve um processador dedicado cuja arquitectura foi definida no sentido de realizar o auto teste de cartas de circuito impresso que disponham de BST. Uma primeira versão deste processador foi desenvolvida e fabricada em tecnologia CMOS (1,5 ?m).