SBM'91:

A metodologia de teste Boundary Scan (BST) surgiu como resposta aos problemas colocados ao teste de cartas de circuito impresso contendo VLSIs e ASICs de grande complexidade e exibindo difícil acesso aos nós físicos da carta. Baseia-se na disponibilidade de circuitos integrados em que células especiais, associadas aos pinos de entrada e saída, realizam o equivalente a um "bed-of-nails" electrónico, facilitando o teste das interligações na carta e o controlo de mecanismos de auto teste disponíveis nos integrados. Este trabalho, depois de descrever sucintamente a metodologia, discute os aspectos essenciais associados com o teste de interligações, e apresenta a arquitectura de um processador dedicado para o auto teste de cartas de circuito impresso equipadas com BST.