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EEC5174 - 2004 / 05 |
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Geral
Ano lectivo: 2004 / 2005
Ano: 5.º - Semestre: 2.º - Escolaridade semanal: 3 HT e 1 HTP
Departamento que lecciona a disciplina: DEEC
Página no SiFEUP: PPT EEC5174 
Docente: José Manuel Martins Ferreira [ jmf@fe.up.pt ]
N.º aulas teóricas: 14 - N.º aulas teórico/práticas: 13
Objectivos
Esta disciplina complementa a formação dos alunos no domínio do projecto de sistemas digitais e mistos (analógicos e digitais), integrando conhecimentos de projecto e teste. São apresentadas as principais metodologias de teste e de projecto para a testabilidade, actualmente essenciais no projecto e produção de sistemas (micro)electrónicos, com relevo para as normas definidas pelo IEEE neste domínio (nomeadamente as normas 1149.1 e 1149.4) e para o teste de memórias (prevendo-se para esta última parte a colaboração da Infineon Technologies, Portugal, S.A.).
Conteúdo
> Conceitos básicos de teste
Modelação de faltas: o modelo ss@
Geração de vectores de teste para circuitos combinatórios
Testabilidade e geração de testes em circuitos sequenciais
Abordagens estruturadas ao projecto para a testabilidade
> A tecnologia de teste BST (IEEE 1149.1)
O desenvolvimento do BST e o seu domínio de aplicação
A arquitectura BS e o porto de acesso ao teste (TAP)
> O teste de cartas com BST
Detecção de defeitos estruturais (circuitos abertos, curto-circuitos)
Especificação do programa de teste
> Geração do programa de teste para uma carta com BST
A CCI de demonstração
A informação necessária à geração do programa de teste
Os vectores de teste
O programa de teste
> O teste misto (IEEE 1149.4)
Apresentação geral da norma IEEE 1149.4
Detecção de defeitos estruturais em cartas 1149.4
Detecção de defeitos paramétricos em cartas 1149.4
> O teste de memórias
Organização interna
Modelos de faltas
Algoritmos de teste
O teste de SDRAMs
Equipamentos de teste
Metodologia
A disciplina de PPT é leccionada na forma tradicional, com base num conjunto de apresentações teóricas, complementadas por sessões práticas que incluem trabalhos laboratoriais. Para além destas sessões de carácter teórico / prático, é privilegiada a ligação a casos concretos de estudo, incluindo o teste de memórias, parte na qual se prevê que possamos continuar a contar com a colaboração do departamento de teste da Infineon, no Mindelo.
Elementos de apoio
Os elementos de estudo para apoio à disciplina de PPT baseiam-se essencialmente num conjunto de conteúdos HTML, aos quais se acrescentam cópias (PDF) de todas as transparências usadas nas aulas teóricas, documentação técnica adicional (e.g. folhas de características de componentes) e aplicações de apoio a trabalhos laboratoriais.
Avaliação
Será efectuada uma avaliação de dois tipos: formativa e sumativa. Na avaliação formativa pretende-se ir construindo uma informação qualitativa sobre o progresso dos alunos, útil quer para eles quer para o docente (esta informação será compilada a partir de questões que irão sendo colocadas ao longo do semestre). A avaliação sumativa produzirá a nota a atribuir no final da disciplina, levando em conta a informação produzida pela avaliação formativa e pelas tradicionais provas de avaliação, no caso de os alunos optarem pela sua realização. Em alternativa às provas de avaliação, os alunos poderão realizar um ou mais trabalhos, cuja classificação substituirá a dos testes.
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 José Manuel Martins Ferreira FEUP / DEEC Rua Roberto Frias 4200-465 Porto Portugal |
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